| 圖片 |
型號(hào) |
品牌 |
封裝 |
數(shù)量 |
描述 |
PDF資料 |
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CT4076-NA |
Cal Test Electronics
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5 |
OSCOPE PROBE X100/X1K 35MHZ 50M |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Elditest?, Cal Test|在售|有源差分|100：1，1000：1|35MHz|50M|7500V... |
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CT4197 |
Cal Test Electronics
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12 |
DIFFERENTIAL PROBE KIT, 100 MHZ, |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|盒|-|在售|差分|10:1，100:1，1000:1|100MHz|20M|4000V（4kV）（DC + AC 峰... |
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CT4072 |
Cal Test Electronics
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11 |
OSCOPE P X100/200/500/1K 100MHZ |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|盒|-|在售|有源差分|100:1，200:1，500:1，1000:1|100MHz|54M|3.5kV（DC + ... |
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CT4028 |
Cal Test Electronics
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14 |
OSCOPE PROBE X1K 220MHZ 900M |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Elditest?, Cal Test|在售|電壓探頭|1000:01:00|220MHz|900M|39000... |
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CT4198 |
Cal Test Electronics
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3 |
DIFFERENTIAL PROBE KIT, 100 MHZ, |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|盒|-|在售|差分|20:1，200:1，2000:1|100MHz|30M|8000V（8kV）（DC + AC 峰... |
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CT4079-NA |
Cal Test Electronics
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OSCOPE PROBE X200/X2K 50MHZ 40M |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Elditest?, Cal Test|在售|有源差分|200:1，2000:1|50MHz|40M|15000... |
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T3HVD1500-200 |
Teledyne LeCroy
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4 |
HIGH VOLTAGE DIFFERENTIAL PROBE |
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| 參數(shù)：Teledyne LeCroy|盒|T3HVD|在售|電壓探頭，差分|50：1，500：1|200MHz|10M|CAT II 1000V，CAT III 60... |
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HVD3220 |
Teledyne LeCroy
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7 |
2KV 400MHZ HIGH VOLTAGE DIFFEREN |
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| 參數(shù)：Teledyne LeCroy|盒|HVD|在售|電壓探頭，差分|-|400MHz|-|CAT I 2000V，CAT III 1500V|-|-|黑色和紅色|... |
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CT2674A |
Cal Test Electronics
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34 |
OSCOPE PROBE X1/X10 100MHZ 10M |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Cal Test|在售|無源|1：1，10：1|100MHz|10M|CAT II 300V|16pF|47.2... |
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1P20B |
TPI (Test Products Int)
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17 |
OSCOPE PROBE X1 15MHZ 1M |
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| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|1P20B|在售|無源|1:01|15MHz|1M|150V|47pF|47.244"（1200.00mm... |
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GE2501 |
Cal Test Electronics
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22 |
OSCOPE PROBE X1 55MHZ 1M |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|GE, Elditest?, Cal Test|在售|無源|1:01|55MHz|1M|CAT II 300V|... |
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CT2704 |
Cal Test Electronics
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15 |
OSCOPE PRB X1/X10 100MHZ 1M/10M |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Cal Test|在售|無源|1：1，10：1|100MHz|1M，10M|CAT II 300V|45pF，1... |
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CT2704SA |
Cal Test Electronics
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11 |
OSCOPE PRB X1/X10 100MHZ 1M/10M |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Cal Test|在售|無源|1：1，10：1|100MHz|1M，10M|CAT II 300V|45pF，1... |
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SP100B |
TPI (Test Products Int)
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43 |
OSCOPE PRB X1/X10 100MHZ 1M/10M |
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| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|SP|在售|無源|1：1，10：1|100MHz|1M，10M|CAT II 150V，300V|47pF... |
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P200B |
TPI (Test Products Int)
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20 |
OSCOPE PROBE X10 200MHZ 10M |
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| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|P200|在售|無源|10:01|200MHz|10M|CAT II 300V|15pF|47.244"（... |
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P250B |
TPI (Test Products Int)
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13 |
OSCOPE PROBE X10 250MHZ 10M |
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| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|P250|在售|無源|10:01|250MHz|10M|CAT II 300V|14pF|47.244"（... |
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SP200B |
TPI (Test Products Int)
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17 |
OSCOPE PRB X1/X10 200MHZ 1M/10M |
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| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|SP|在售|無源|1：1，10：1|200MHz|1M，10M|CAT II 150V，300V|47pF... |
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CT2707 |
Cal Test Electronics
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14 |
OSCOPE PROBE X100 250MHZ 100M |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|Cal Test|在售|無源|100:01:00|250MHz|100M|CAT I 1200V|6.5pF|4... |
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GE2521 |
Cal Test Electronics
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3 |
OSCOPE PRB X1/X10 250MHZ 1M/10M |
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| 參數(shù)：Cal Test Electronics|散裝|GE, Elditest?, Cal Test|在售|無源|1：1，10：1|250MHz|1M，10M|CAT... |
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SP250B2 |
TPI (Test Products Int)
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5 |
OSCOPE PRB X1/X10 250MHZ 1M/10M |
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| 參數(shù)：TPI (Test Products Int)|散裝|SP|在售|無源|1：1，10：1|250MHz|1M，10M|CAT II 150V，300V|47pF... |
